原液粒度及zeta電位分析儀工作原理

　　原液粒度及Zeta電位分析儀在材料科學(xué)、生物醫藥、半導體等多個(gè)領(lǐng)域扮演著(zhù)重要角色，其工作原理基于精密的物理和化學(xué)原理。下面，我們將詳細科普這兩種分析儀的工作原理。

　　一、原液粒度分析儀工作原理

　　原液粒度分析儀主要采用斯托克斯定律(Stokes' Law)和光散射原理進(jìn)行粒度分析。斯托克斯定律描述了顆粒在流體中的沉降速度與顆粒尺寸、密度以及流體粘度之間的關(guān)系。具體來(lái)說(shuō)，顆粒在流體中的沉降速度與顆粒的直徑的平方成正比，與顆粒的密度和流體的粘度成反比。因此，通過(guò)測量顆粒在流體中的沉降速度，可以間接地計算出顆粒的尺寸分布。

　　在實(shí)際操作中，首先將待測顆粒樣品與適量的流體混合，然后將混合物注入粒度分析儀的測量室內。測量室內設有激光器和光敏探測器，激光器發(fā)出的激光束穿過(guò)測量室。當顆粒通過(guò)激光束時(shí)，會(huì )散射出光信號，這些光信號被光敏探測器捕獲。通過(guò)分析捕獲的光信號，可以得到顆粒在流體中的沉降速度，進(jìn)而計算出顆粒的尺寸分布。

　　二、Zeta電位分析儀工作原理

　　Zeta電位分析儀則采用電泳光散射原理。其工作原理是帶電顆粒在外加電場(chǎng)作用下進(jìn)行運動(dòng)，電荷運動(dòng)使散射光產(chǎn)生頻率漂移(多普勒頻移)。通過(guò)采用頻譜漂移分析技術(shù)，可以計算出顆粒的電泳遷移率和Zeta電位。

　　具體來(lái)說(shuō)，Zeta電位分析儀會(huì )先對待測樣品進(jìn)行電場(chǎng)處理，使樣品中的帶電顆粒發(fā)生電泳運動(dòng)。然后，通過(guò)激光器和光敏探測器測量顆粒在電場(chǎng)中的運動(dòng)情況，即散射光的頻率漂移。根據這些數據，分析儀可以計算出顆粒的電泳遷移率和Zeta電位，從而了解樣品的表面電荷性質(zhì)和穩定性。

　　原液粒度及Zeta電位分析儀的工作原理基于精密的物理和化學(xué)原理，通過(guò)測量和分析顆粒在流體中的沉降速度或電泳運動(dòng)情況，可以得出顆粒的尺寸分布和表面電荷性質(zhì)等重要信息。這些信息對于材料科學(xué)、生物醫藥、半導體等領(lǐng)域的研究和應用具有重要意義。