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    高濃度納米粒度儀及zeta電位分析儀

    簡(jiǎn)要描述:Zeta-APS 高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀
    Zeta-ASP是高濃度膠體和乳液的特性參數檢測儀,可以測試:粒徑、Zeta電位、滴定、電導等。
    此儀器容易使用、測量精確。對于高達60%(體積)濃度的樣品,也無(wú)需進(jìn)行稀釋或樣品前處理,即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進(jìn)行測量。

    • 產(chǎn)品型號:ZetaAPS型
    • 廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
    • 更新時(shí)間:2021-08-19
    • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:3144

    詳細介紹

    品牌其他品牌價(jià)格區間面議
    產(chǎn)地類(lèi)別進(jìn)口應用領(lǐng)域醫療衛生,化工,石油,制藥

    Zeta-APS 高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀

    典型應用:

    綜合穩定水泥漿,陶瓷,化學(xué)機械研磨,煤漿,涂料,化妝品,環(huán)境保護禪選法礦物富集,食品工業(yè),乳膠,微乳,混合分散體系,納米粉,無(wú)水體系,油漆成像材料。

    主要特點(diǎn):

    1)能分析多種分散物的混合體;

    2)無(wú)需依賴(lài)Double Layer模式,精確地判定等電點(diǎn);

    3)可適用于高導電(highly conducting)體系;

    4)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;

    5)可精確測量無(wú)水體系;

    6)Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù),無(wú)需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量;

    7)樣品的高濃度可達60%(體積比),被測樣品無(wú)需稀釋?zhuān)瑢饪s膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量;

    8)具有自動(dòng)電位滴定功能;

    優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢:

    1)被測樣品無(wú)需稀釋?zhuān)?/span>

    2)排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;

    3)不需定標;

    4)能分析多種分散物的混合體;

    5)高精度;

    6)所檢側粒徑范圍款從5 nm至1000um

    Zeta-APS 高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀

    優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢:

    1)無(wú)需定標;

    2)能測更寬的粒徑范圍;

    3)無(wú)需依賴(lài)Double Layer模式

    4)無(wú)需依賴(lài)( electric surface properties)電表面特牲;

    5)零表面電荷條件下也可測量粒徑;

    6)可適用于無(wú)水體系;

    7)可適用于高導電(highly conducting)體系;

    優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢:

    1)無(wú)需稀釋?zhuān)毯狭扛哌_60%;

    2)可排除雜質(zhì)及對樣品污染的干擾;

    3)高精度(±0.1mv);

    4)低表面電荷(可低至0. 1mv);

    5)electrosmotic flow不影響測量;

    6)對流(convection)不影響測量;

    7)可精確測量無(wú)水體系;

    技術(shù)參數:

    1)所檢測粒徑范圍寬:從5 nm至1000um;

    2)可測量參數:粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點(diǎn)IEP、E5A、電導率、PH、溫度、聲衰減;

    3)Zeta電位測量范圍:+/-200 mv,低表面電荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv);

    4)零表面電荷條件下也可測量粒徑;

    5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分數);

    6)樣品體積:30-230ml;

    7)PH范圍:0~14;

    8)電導率范圍:0~10 s/m

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